過去,計(jì)算機(jī)斷層掃描技術(shù)(CT)只用于醫(yī)學(xué)診斷領(lǐng)域?,F(xiàn)在,這一技術(shù)逐步滲入到工業(yè)領(lǐng)域。
GOM 工業(yè)CT 可以對零件表面和內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行無損數(shù)字化處理。憑借超高的圖像分辨率、細(xì)節(jié)精度和出色的用戶使用體驗(yàn),GOM CT在工業(yè)測量領(lǐng)域樹立了新標(biāo)桿。
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利用高精技術(shù)三維掃描零件內(nèi)部結(jié)構(gòu)
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GOM CT可掃描復(fù)雜零件及其內(nèi)部結(jié)構(gòu),為用戶獲取樣品的全面三維掃描圖像,用于 GD&T 分析或標(biāo)稱-實(shí)際比較。
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為達(dá)到零件工業(yè)數(shù)字化要求的細(xì)節(jié)銳度,GOM CT的所有組成部件都互為精準(zhǔn)對齊:內(nèi)置的高對比度3k X射線探測器可生成高度精細(xì)像素網(wǎng)格(3008×2512 像素),為組件的高精度數(shù)字化奠定基礎(chǔ)。帶有集成式中央轉(zhuǎn)臺的5軸運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)確保用戶始終將組件定位在最佳測量范圍內(nèi),在鏡頭最佳分辨率下進(jìn)行拍攝測量。該設(shè)備的另一項(xiàng)實(shí)際應(yīng)用在于,它能在一個(gè)測量區(qū)域?qū)崿F(xiàn)多個(gè)物體的同步測量,從而有效提高產(chǎn)量。
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數(shù)據(jù)采集和評估一步到位
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GOM系統(tǒng)將設(shè)備控制和數(shù)據(jù)計(jì)量評估流程集成到一個(gè)軟件中,無需使用額外的軟件。因此,從記錄原始數(shù)據(jù)到檢測,再到創(chuàng)建測量報(bào)告,整個(gè)工作流程非常簡單。
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使用實(shí)時(shí)視圖進(jìn)行特定對象定位
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許多CT系統(tǒng)操作涉及大量的用戶干預(yù)。比如,用戶需要在測量室中手動(dòng)定位零件,這一項(xiàng)過程相當(dāng)耗時(shí),用戶要靠不斷試錯(cuò)來找到最佳測量位置。而GOM CT 的運(yùn)行方式不同,用戶只需將待測零件放進(jìn)設(shè)備的任意位置,接下來所有步驟將由系統(tǒng)自動(dòng)完成。CT軟件通過實(shí)時(shí)視圖向用戶展示X射線探測器記錄的當(dāng)前位置的零件測量狀態(tài)。用戶可通過左右移動(dòng)虛擬定位工具來找到理想測量位置。最后,CT軟件會自動(dòng)計(jì)算出測量對象的定位數(shù)據(jù)并單獨(dú)將其移動(dòng)至該位置。
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“市場上不乏其他檢測零件的CT機(jī),但它們通常無法滿足生產(chǎn)和質(zhì)量保證領(lǐng)域的工業(yè)應(yīng)用對計(jì)量技術(shù)的更高要求。在研發(fā)GOM CT時(shí),公司對市場現(xiàn)有標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行深入調(diào)研和考察,在已有的系統(tǒng)基礎(chǔ)上優(yōu)化改進(jìn),提出了具有創(chuàng)新意義的設(shè)想?!盌r. Dominik Stahl, GOM CT開發(fā)部負(fù)責(zé)人道。
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GOM CT可高精度呈現(xiàn)部件整體細(xì)節(jié)
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GOM CT
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工藝:
計(jì)算機(jī)斷層掃描技術(shù)(CT)
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應(yīng)用領(lǐng)域:
無損檢測帶有內(nèi)部結(jié)構(gòu)的零件??捎糜诔跏紮z測、模具修正或者生產(chǎn)進(jìn)程中的檢測。
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材料:
較小的塑料件和輕金屬零件
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分辨率:
3008×2512像素
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測量體積:
直徑:240mm
高度:400mm
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體素大?。?/div>
2–80?μm
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占地空間:
高2130mm,寬2200mm
深1230mm
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